Nowa publikacja dr Rainera Schramma pod tytułem:

"X-Ray Fluorescence Analysis: Practical and Easy"

ISBN 978-3-00-041476-3

Książka jest dostępna w języku angielskim i ułatwi Państwu zdobycie nowej wiedzy oraz jej późniejsze wykorzystanie w praktyce.

Jest już dostępna nowa (druga) edycja książki doktora Rainera Schramma “X-Ray Fluorescence Analysis: Practical and Easy”. Zostały w niej wyjaśnione podstawowe zasady XRF,  w tabelach przedstawiono wymagania dla technologii urządzeń, a metody przygotowania prób zostały ukazane na zdjęciach. Wiele przykładów z codziennej praktyki jest interesujących zarówno dla początkujących jak i dla doświadczonych użytkowników.

Wiele rozdziałów książki zostało ulepszonych, a przede wszystkim rozdział “Application Development of a Test Method”.

Spis treści oraz wyciąg z kilku pod rozdziałów z książki uzyskają Państwo klikając na poniższy link:

Lorem ipsum dolor sit amet, consectetur adipiscing elit. Curabitur pharetra dapibus pharetra. Donec interdum eros eu turpis pharetra et hendrerit est ornare. Etiam eu nulla sapien. Nullam ultricies posuere nunc, eget mollis nulla malesuada quis.

Guidelines for XRF analysis

(Wytyczne do analizy XRF)

Autorzy: James Willis, Clive Feather, Ken Turne

ISBN 978-0-620-62961-4

Książka w języku angielskim.

Wspólnie Prof. James Willis, dr Clive Feather i dr Ken Turner posiadają 130 lat doświadczenia w technice XRF.

Ta książka zawiera całą ich wspólną wiedzę dotyczącą tworzenia metod XRF.

Szczególnie powinny być wzięte pod uwagę rozdziały zajmujące się tworzeniem programów pomiarowych zależnie od aplikacji dla spektrometrów WDXRF. Wyszczególniają zalecenia dotyczące wyboru linii pierwiastka oraz powiązane z nią pozycje tła. Zależne od aplikacji widma pokazują możliwe pokrywa się (nakładanie) linii i wpływy wynikające z wyboru kryształu analitycznego i kolimatora. Wyszczególnione i wyjaśnione są wszystkie istotne parametry i ich wpływ dla każdej aplikacji. Tam, gdzie to możliwe wykonano porównanie do techniki EDXRF.

Dr Rainer Schramm: "Moim zdaniem, ta książka jest niezbędna dla każdego twórcy metody XRF."